CFTC 2019

历届回顾-2018

聚焦第十届中国测试大会 CTC2018 首日盛况!

CTC/ITC-Asia/IWCR 三会联办,精彩纷呈!

 

 

  8月14日-17日,由CCF主办、中国计算机学会容错计算专业委员会和哈尔滨工业大学共同承办的第十届全国测试会议(CTC 2018)在哈尔滨太阳岛花园酒店正式召开。本次会议与国际会议 International Test Conference in Asia (ITC-Asia) 2018International Workshop on Cross-layer Resiliency (IWCR) 2018 联合举办。会议阵容强大,30多位 IEEE/ACM/CCF Fellow 等顶级专家以及企业代表携手11场大会特邀报告,7个高端产业论坛,50多场论坛特邀报告,60多场学术论坛报告,参会人数超过500人,是本年度国内测试、容错、可信度领域规模最大、规格最高、影响最广的一次学术界盛会!  

  会议开幕式由容错计算专委秘书长韩银和主持,容错计算专委主任李华伟致欢迎词,中国计量测试学会秘书长马爱文、IEEE TTTC Chair Chen-huan Chiang、ACM SigDA 主席 Sharon HU、 CTC2018 主席杨孝宗和李晓维致开幕词,程序会议主席董剑介绍本次会议概况。上午的四个 Keynotes 和下午的多个论坛,精彩纷呈,下面我们来盘点 CTC2018 首日的亮点。

 

大咖云集,汇聚一堂

 

  本次大会的演讲嘉宾汇聚了 30 多位来自世界各地的学术界和业界顶级专家以及全国专业人士,共同探讨测试、容错、可信度等领域的最新研究进展和发展趋势,一起推动集成电路设计,助力宏伟的“中国芯”事业。

 

 

主题报告,切中关键

 

  上午开幕式之后,四位特邀讲者分别做了精彩的学术报告。演讲主题涵盖人工智能算法的硬件加速、集成电路设计安全、关键软件设计与错误定位、无人电动汽车等热门话题,切中当前国家布局集成电路领域的核心问题和关键技术。

 

 

  美国圣母大学的 X. Sharon Hu 教授做了题为“A Cross-Layer Perspective for Energy Efficient Processing—from Beyond-CMOS Devices to Deep Learning”的主旨报告。胡教授从跨层设计的角度,介绍了采用新型器件在非冯诺依曼体系结构的应用。尤其通过探究新型器件独有的行为特征,辅以新电路,新结构来提升功耗和性能,最终透过对应用程序的评测可以体现跨层设计的综合收益。

 

 

  Synopsys 公司亚美尼亚区总裁Yervant Zorian 博士做了题为“Automotive Electronics Today: Quality, Safety & Security”的主旨报告。自动驾驶技术正在飞速发展,其中最重要的是保证驾驶安全。Yervant 提到,“人类会犯错,机器也会犯错,但我们要保证机器比人犯更少的错”, Synopsys 公司提供了自动驾驶领域一站式解决方案,包括芯片 IP,EDA 工具和系统设计,以及芯片和嵌入式系统级测试,支持离线测试和在线测试。测试在自动驾驶是安全保证中最重要的一环,我国在该领域还期待更长足的发展和创新。

 

 

  美国德州大学达拉斯分校的 W. Eric Wong 教授做了题为“Automotive Electronics Today: Quality, Safety & Security”的主旨报告。针对当前复杂软件系统的多缺陷问题,W. Eric Wong 教授在演讲中介绍了基于类聚方法的缺陷定位技术。该项技术通过解决失败测试用例距离定义、类聚集合数量确定和类聚算法选择这三方面问题,极大地提高软件缺陷定位的准确性和效率。软件系统安全是网络空间安全战略发展中尤为重要的方面,该报告从多个维度指出了当前软件系统安全加固的关键环节。

 

 

  韩国科学与技术高等研究院 KAIST 的 Naehyuck Chang 教授做了题为“Design Automation of Low-power Battery Electric Vehicles”的主旨报告。能效问题一直是电动汽车设计中最富挑战的议题之一,Naehyuck Chang 教授在报告中介绍了一个他们开发的瞬时功耗模型,该模型充分考虑了电动汽车重量、速度、加速度、道路斜率等综合因素以保证其高可信度。报告中还介绍了一种在设计阶段的快速综合方法,可大幅提升电动汽车动力系统的能效。

 

论坛讨论,精彩纷呈

 

  除了重磅的主题演讲外,下午的四个前沿技术专业论坛和 ICCAD 论文预讲大会同样精彩。针对集成电路、软件、汽车电子系统等可靠可信领域关键问题和最新研究进展,论坛邀请了 50 多名学术和产业专家到会报告。

  (1)全国硬件安全论坛 (执行主席:张吉良)介绍利用与针对硬件漏洞的攻击方法及防护措施,探讨从硬件到系统安全的产业需求与解决方案。

  (2)安全关键软件测试技术论坛 (执行主席:黄松)分析军用及安全关键软件测试领域存在的技术问题,探讨工程实践的解决方案以及值得研究的有价值的学术问题,在学术界和企业界之间搭建一个高水平的交流平台。

  (3)ICCAD 论文预讲 (执行主席:蒋力、卓成)

  (4)开源硬件和智能芯片论坛 (执行主席:罗国杰)探讨开放式的设计重用和社会分工、解决设计复杂性和开发效率等问题,有利于技术创新快速成长为行业独角兽,形成人才-技术-产品-市场的良性循环。

  (5)芯片设计与 EDA 领域获奖论文和竞赛论坛 (执行主席:喻文健)邀请今年来设计自动化与测试领域的杰出中国学者莅临现场,展示其获奖成果、讲授获奖背后的故事。

 

 

 

  次日将有更多前沿技术论坛,欢迎继续关注:

  (1)安全关键软件测试技术论坛 (执行主席:黄松)

  (2)存储可靠性技术论坛 (执行主席:石亮)

  (3)从芯片到系统的测试挑战与机遇 (执行主席:向东)

 

首枚大奖,神秘揭晓

 

  中国计算机学会CCF 集成电路Early Career Award 针对工作不超过6 年的青年学者设立, 为从事集成电路方向的青年学者早期职业生涯提供支持。这是中国计算机学会体系内唯一的一个集成电路专业奖项,今年启动第一届评选。

 

 

  在开幕式的最后一个重磅环节,评奖委员会主席汪玉教授宣布首届 CCF 集成电路 Early Career Award 授予福州大学的陈建利博士,以表彰陈建利博士在超大规模集成电路电子设计自动化领域所做的贡献。

 

 

  陈建利博士一直专注于超大规模集成电路布局问题的研究。通过 10 年来不断的累积以及版本改进,陈建利博士设计可高效处理元件规模达到千万级的布局工具,成果斐然。2017 年,陈建利博士的第一作者论文获得EDA 领域旗舰会议第54 届电子设计自动化会议DAC2017 最佳论文奖,该奖项为 DAC 会议有史以来中国大陆高校首次以第一单位获奖。

  2017 年 11 月,陈建利博士及其团队以巨大优势获得第 36 届国际集成电路计算机辅助设计会议 ICCAD 所举行的学术竞赛(历时 9 个月)全球第一名,为该赛事有史以来中国大陆首次获得冠军。此外,2018 年陈建利博士的五篇论文被第 37 届 ICCAD 录用,其中一篇论文获得布局/版图规划领域最佳论文奖。

  台湾大学电机资讯学院院长张耀文教授评价陈建利博士为 EDA 领域国际上耀眼的青年学者,他的研究成果对集成电路及相关领域的发展将产生深刻的影响。陈建利博士的获奖正是对集成电路设计领域踏实耕耘、勇于创新的研究者们莫大的肯定和激励!相信未来会有更多青年不忘初心、牢记使命,积极投身于我国集成电路领域的发展伟业。

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